电子设备可靠性在研究设计阶段从定性考虑转到定量研究,首要问题是必须具备电子元器件的失效率特性曲线,否则,预测系统可靠度就无从谈起。但在今后一段时期内,国产电子元器件还不可能提供失效率特性的完备数据。作者分析并提出采用美国军用手册“MIL—HDBK—217B”提供的数据,只要把元器件失效率模式中的“质量系数”改由国产元器件失效率鉴定试验中或在现(?)失效资料搜集中所得数据,经过变换取代就能成功。文中用了一些国产元器件在可靠性模底试验中的数据进行比较和分析;还简要介绍在对某一雷达系统实施可靠性工程中尝试用此方法编制了元器件失效率试用手册,对开展系统可靠度预测发挥了指导作用。