[关键词]
[摘要]
提出了一种采用超大规模集成电路的边界扫描测试技术来设计内建自测试(BIT)电路的方法。此方法利用一片单片机的I/O口线以及超大规模集成电路所具有的边界扫描测试结构来实现对VLST集成电路芯片的故障诊断。
[Key word]
[Abstract]
The article provides a method to design BIT circuit using BST technology of VLST. This method uses I/O port of a microchip computer and BST architecture of VLSI to accomplish fault diagnosis.
[中图分类号]
TN952
[基金项目]
